技术概述
电气连接可靠性测试聚焦于端子与连接点这一设备中最易劣化的环节，将端子接触电阻测量与通电温升验证联合实施，用以评价连接在长期载流条件下的可靠程度。接触电阻偏大是连接点过热的根源，而温升则是其外在表现；两者在同一端子上联合测试，可以直接建立"电阻—发热"的对应关系，识别虚接、压接不良、镀层劣化与松动趋势。该测试常作为连接器、端子排与装配工艺可靠性评价的核心手段。
检测样品
受试对象为各类电气端子与连接结构，包括螺钉端子、弹簧端子、压接端子与冷压接头、插拔式连接器、母排搭接与汇流排连接、印制板插接端子以及设备内部接线端头。样品应按实际工艺完成装配（规定力矩、压接高度与拉力规范、导线规格匹配），并具备通电加载条件。用于对比研究时，可制备不同力矩、不同压接参数的多组样品，以评价工艺窗口与可靠性裕度。
检测项目
项目包含两部分：其一为端子接触电阻（或规定电流下的接触压降）测量，覆盖每个被测端子；其二为在额定载流或规定过载条件下的通电温升试验，监测端子本体、导线绝缘近端及周围可触及部位的温升。联合分析还包括电阻随通电时间的变化趋势（判断是否存在劣化加速）、多次插拔或温度循环后电阻与温升的复测。判定按产品标准对端子温升与接触电阻（或压降）的限值执行。
检测方法
先用四线法测量各端子接触电阻：电流与电压引线分开，夹接于端子两侧，多次读数取稳定值。随后在规定电流（额定或按标准规定倍数）下连续通电，用热电偶监测端子及关键部位温度至热稳定，计算温升。对比通电前后的接触电阻变化，评估接触状态的稳定性。对于需要评价长期可靠性的样品，可按标准进行温度循环、振动或通断电循环后再复测电阻与温升，观察劣化趋势。
检测仪器
所需仪器包括微欧计（四线低阻测量）、大电流直流或交流源与负载装置、多通道温度记录仪与热电偶、力矩扳手（装配与复紧检查）、环境温度计与风速计，配套开尔文夹具、高温胶带与导热固定材料。若开展循环试验，还需温度循环箱或振动台。全部仪器应计量校准，保证接触电阻毫欧级读数与温升测量的准确性，测试布置需排除引线电阻与外部气流干扰。
应用领域
该联合验证广泛应用于连接器与端子制造、电器装配工艺评定、配电成套设备与充电设施检测、动力电池与储能连接可靠性评价、轨道交通与汽车线束质量管控等领域。在来料检验中可筛查端子与压接质量；在研发中为力矩规范、压接高度与材料选型提供依据；在失效分析中对疑似过热连接点进行复现验证，是连接可靠性与热安全交叉评价的实用方案。
常见问题
问：为什么端子要同时测电阻和温升？
答：电阻反映接触状态本身，温升反映其在实际载流下的后果。两者联合可区分"电阻偏大但发热尚可"与"电阻正常但异常发热"等情形，判断更全面。
问：通电电流取多大？
答：一般取产品额定电流或标准规定的试验电流，必要时按标准施加规定倍数的过载电流考核裕度，具体以适用标准与产品条件为准。
问：测试费用如何？
答：费用按端子类型与数量、通电条件、是否含循环试验及报告要求确定，存在差异，实际费用以检测方案为准，本说明不提供固定报价与折扣。
问：测试耗时多久？
答：电阻测量单点数分钟；温升部分需通电至热稳定，短则数小时，大电流或大热容端子更久，含循环试验时周期相应延长。
问：插拔次数影响结果吗？
答：会。插拔式端子经多次插拔后接触面磨损、压力变化，电阻可能上升，因此插拔循环后的复测是连接可靠性评价的常规内容。
问：端子温升合格但电阻偏大要处理吗？
答：建议关注。此时发热裕度尚可但接触状态已有劣化迹象，长期运行存在风险，可结合过载温升或循环试验进一步验证，并检查装配工艺。
问：测试后端子还能用吗？
答：常规测量与温升试验为非破坏性；若施加了过载或循环应力，样品可能已发生不可逆变化，此类样品不宜再用于交付。