《电子电器产品光照老化测试方法与标准解析》

以下是对电子电器产品光照老化测试方法与标准的解析：

测试方法1

• 紫外光老化试验：波长范围在 290nm 到 400nm 之间，能够引起聚合物老化，且灯管光谱稳定，还可模拟户外潮湿环境。常用于各种涂层、纺织品、塑料、橡胶等材料的测试，主要应用于常规消费品。

• 氙灯老化试验：主要模拟太阳光，波长范围在 400nm 到 800nm 之间，可以模拟长波紫外光和可见光，常用于测试颜色变化，广泛应用于电子电气产品材料的耐久性和稳定性评估。

• 碳弧灯老化试验：由于维修费用高、无法校正、模拟光谱范围窄等原因，已经逐渐被淘汰。

• 金属卤素灯老化试验：适用于电子产品外壳的测试。

测试标准2

• 紫外光老化测试标准：

• ASTM G154 - 2016：美国材料与试验协会（ASTM）制定的非金属材料暴露于荧光设备的紫外线中的测试方法标准。

• ISO 4892 - 3 - 2016：国际标准化组织（ISO）规定的塑料实验室光源暴露试验方法第 3 部分，关于荧光紫外灯的标准。

• GB/T 16422.3 - 2014：中国国家标准，是塑料实验室光源暴露试验方法的第 3 部分，对应荧光紫外灯测试。

• 氙灯老化测试标准：

• ASTM G155 - 2021：ASTM 关于非金属材料暴露于氙弧灯设备的测试方法标准。

• ISO 4892 - 2 - 2013：ISO 规定的塑料实验室光源暴露试验方法第 2 部分，涉及氙灯老化测试。

• GB/T 16422.2 - 2014：中国的塑料实验室光源暴露试验方法第 2 部分，针对氙灯老化测试。

• GB/T 32088 - 2015：中国规定的汽车内、外饰件及材料使用氙灯进行加速老化试验的方法。

在进行光照老化测试时，需确认一系列参数，包括光源类型、辐照度、滤镜类型、温度、湿度、是否喷淋以及测试时间等1。这些参数可根据相关标准进行选择，如果没有标准，则由需求方提供1。